JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (presidente y director ejecutivo Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo criomicroscopio electrónico de emisión de campo frío (crio-EM), CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300), que se presentará en enero de 2021. Este nuevo dispositivo crio-EM ha sido desarrollado basándose en el concepto de “Rapidez y facilidad de operación y obtención de imágenes de alto contraste y alta resolución”.
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Cold Field Emission Cryo-Electron Microscope CRYO ARM(TM) 300 II (JEM-3300) (Photo: Business Wire)
Fundamentos del desarrollo
La reciente y espectacular mejora en la resolución del análisis de partículas individuales (Single, Particle Analysis, SPA) con el uso del microscopio crio-EM ha llevado al SPA a ser un método esencial para el análisis estructural de las proteínas. Para afrontar este mercado, JEOL lanzó en 2017 el CRYO ARM™ 300. Equipado con un cañón de emisión de campo frío (Cold Field Emission Gun, Cold FEG) para obtener una resolución mejorada y una crioescala para cargar múltiples muestras, el CRYO ARM™ 300 ha seguido logrando la mejor resolución de su clase para el SPA.
Sin embargo, el flujo de trabajo anterior del SPA con crio-EM necesita múltiples microscopios electrónicos porque los flujos de trabajo para el cribado de muestras y para la adquisición de datos de imágenes son independientes entre sí. Este problema ocasiona grandes costes de funcionamiento para los usuarios de crio-EM. Como es necesario utilizar varios microscopios, es inconveniente transferir las criomuestras entre los dispositivos crio-EM. Por consiguiente, los usuarios han estado solicitando un crio-EM que admita un flujo de trabajo completo, desde el cribado de la muestra hasta la adquisición de datos de imagen. Es más, para que varios usuarios puedan utilizar crio-EM, se ha requerido una mejora en la facilidad de uso, que permita a cualquier persona, desde los usuarios más novatos hasta los profesionales, manejar el microscopio sin problemas.
Para satisfacer estas solicitudes, JEOL ha desarrollado un nuevo crio-EM, el CRYO ARM™ 300 II. Este microscopio consigue una gran mejora en el rendimiento para adquirir datos de alta calidad con un funcionamiento rápido y sencillo en comparación con el anterior CRYO ARM™ 300.
Características principales
1. Imagen de alta velocidad conseguida mediante el control óptimo del haz de electrones
2. Estabilidad de hardware mejorada para la adquisición de imágenes de alta calidad
3. Mayor operatividad gracias a la mejora del sistema
Venta de unidades prevista por año
10 unidades/año
Criomicroscopio electrónico CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-3300.html
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, presidente y director ejecutivo
(Código de acciones: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com
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