JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (presidente y director de operaciones: Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de barrido (scanning electron microscope, SEM), el JSM-IT700HR para un rendimiento sin precedentes en agosto de 2020.
Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la noticia completa aquí: https://www.businesswire.com/news/home/20200803005841/es/
Note: The photo of the instrument is JSM-IT700HR/LA. (Photo: Business Wire)
Fundamentos del desarrollo
Los microscopios electrónicos de barrido se utilizan en una variedad de campos, tales como nanotecnología, metales, semiconductores, cerámica, medicina y biología. Además, las aplicaciones SEM se están expandiendo para incluir el control de calidad y la investigación básica. Las demandas están aumentando para una adquisición de datos más rápida de imágenes SEM de mayor calidad y para una confirmación más fácil de la información de composición.
Basado en nuestro galardonado predecesor de los SEM de la serie “InTouchScope™”, el JSM-IT700HR está equipado con nuestra pistola de electrones de emisión de campo (field emission electron gun, FEG) Schottky en el lente. Este nuevo SEM potente satisface las necesidades de observación y el análisis de otros materiales miniaturizados en la operación diaria de laboratorio.
El JSM-IT700HR ofrece una alta resolución de 1 nm y una corriente de sonda máxima de 300 nA (15 veces mayor que antes), lo que proporciona una gran cantidad de información de observación y análisis. Una interfaz de usuario simple de operar, el diseño compacto que acomoda una cámara de muestra grande, con un renovado soporte antivibratorio para la consola principal, logra una observación y análisis más cómodos que antes.
Para mejorar la “Operación simple”, el JSM-IT700HR incorpora una nueva función, integrada en la GUI de SEM, para mostrar la profundidad de generación característica de los rayos X. Esto apoya la rápida comprensión de la profundidad de análisis (referencia) para la muestra, lo cual es útil para el análisis elemental.
Hay 2 configuraciones disponibles: 1) JSM-IT700HR/LV para observación de imágenes de alto y bajo vacío y 2) JSM-IT700HR/LA con sistema JEOL EDS integrado adicional.
Características
- La pistola de electrones de emisión de campo Schottky en la lente permite la observación de imágenes de alta definición y el análisis de alta resolución espacial.
- La función Zeromag, que vincula las imágenes de Holder Graphics, CCD y SEM, hace que la navegación de muestras sea más fácil que nunca.
- Con nuestra “serie analítica” (función Live Analysis), el sistema de detección de energía dispersiva (Energy Dispersive Spectrometer, EDS) integrado muestra un rango de EDS en tiempo real durante la observación de imágenes para un análisis elemental eficiente.
- Una nueva función para mostrar la profundidad de análisis (profundidad de generación de rayos X característica) admite un análisis elemental rápido.
- SMILE VIEW™ Lab, que permite la gestión integrada de datos de imágenes y análisis, facilita la generación de informes para todos los datos, desde imágenes SEM recopiladas hasta resultados de análisis elementales.
- “Specimen Exchange Navi” permite un intercambio de muestras seguro y sencillo.
- Con la función de alineación automática de haces, las condiciones ópticas electrónicas siempre se mantienen óptimas.
- El “sistema de intercambio de extracción” permite un fácil acceso a la gran cámara de muestras, que admite varios tamaños y tipos de muestras
Objetivo de ventas
130 unidades por año (año inicial)
URL: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, presidente y director ejecutivo
(Código de acciones: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com
El texto original en el idioma fuente de este comunicado es la versión oficial autorizada. Las traducciones solo se suministran como adaptación y deben cotejarse con el texto en el idioma fuente, que es la única versión del texto que tendrá un efecto legal.
Vea la versión original en businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20200803005841/es/